基于LED的CCD光强响应特性测定

• 作者: 杜民 杨丕胤 熊保平 甘振华 高跃明
• 来源期刊: 中国测试
• 关键词: 光强响应 电荷耦合器件 成像方式 大功率LED 非线性
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 性能测试
• 页码范围: 121-125
• 页数: 5页
• 字数: 3405字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11857/j.issn.1674-5124.2016.12.025

摘要

针对电荷耦合器件（charge-coupled device，CCD）的光强响应曲线的测量，提出采用大功率LED作为线性光源，设计基于成像方式的光强响应信号的测量装置。通过控制恒流激励电流大小来调节LED的辐射输出并测量CCD的响应数据。根据CCD响应信号拟合出对应的光强响应曲线，并建立光电响应模型分析CCD饱和与非饱和的响应特性。实验结果表明：CCD的光强响应受到LED发光角和辐射模式的影响，当采用LED作为CCD光强响应测量的线性可调光源时，不能忽视LED光强分布的近朗伯特性；同时，H694C-II相机输出灰度值大于61713时CCD ICX694AL的光强响应曲线出现较明显的饱和非线性，但在非饱和区域CCD具有优良的线性响应特性。