基于RoHS认证的X荧光分析技术实现分析

• 作者: 杨叶坤
• 来源期刊: 低碳世界
• 学科: 物理学
• 关键词: RoHS认证 X荧光分析 技术实现
• 年，卷（期）: 2016,（19）
• 所属期刊栏目: 综合论述
• 页码范围: 272-273
• 页数: 2页
• 分类号: O434.19
• 字数: 1582字
• 语种: 中文

摘要

RoHS指令主要用于限制铅（Pb）、镉（Cd）、汞（Hg）、六价铬（Cr6+）、多溴联苯（PBB）及多溴二苯醚（PBDE）这六种有毒物质。目前，RoHS认证指令在电子电器、质量检测以及环保等众多领域应用广泛。X荧光分析技术由于速度快、成本低、破坏性小等，现已成为检测控制有害元素含量的重要方法，在RoHS检测中应用广泛。本文主要对基于RoHS认证的X荧光分析技术实现进行分析。本文首先对RoHS质量进行概述，在此基础上，基于德国斯派克MIDEX能量散射X射线荧光光谱仪，对其技术实现进行分析。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨叶坤		1	1	1.0	1.0