高纯锗谱仪探测效率的实验刻度与 MC 模拟

• 作者: 关伟 杨静 白万春
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 其他
• 关键词: 高纯锗探测器 探测效率 Geant4 MC方法
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 页码范围: 137-139,149
• 页数: 4页
• 分类号: O582
• 字数: 2031字
• 语种: 中文

摘要

利用低本底高纯锗谱仪测量了标准源（133Ba、137Cs和60Co）的各特征γ射线，得到了各特征能量下的探测效率，并通过拟合给出了高能端的探测效率曲线。同时，利用MC模拟工具包Geant4，模拟了各单能γ射线在高纯锗探测器组件中的输运过程，得到了不同能量下的模拟探测效率。比对结果发现：实验值与模拟值能很好地符合，可为开展相关产品的设计和制造提供参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白万春		3	10	2.0	3.0
2	关伟		3	10	2.0	3.0
3	杨静		3	10	2.0	3.0