超临界二氧化碳-聚合物体系浊点压力的光敏法测量

• 作者: 宫厚健 朱腾 李亚军 李卫卫 董明哲 郭春清
• 来源期刊: 中国科技论文
• 学科: 工学
• 关键词: 亲二氧化碳聚合物 超临界二氧化碳 浊点压力 助溶剂 光敏电阻
• 年，卷（期）: 2016,（21）
• 页码范围: 2514-2518
• 页数: 5页
• 分类号: TE357.12
• 字数: 4552字
• 语种: 中文

摘要

超临界二氧化碳-聚合物体系的浊点压力是评价聚合物类二氧化碳压裂液增黏剂性能的重要参数.使用自主研发的超临界二氧化碳相平衡装置,采用根据光敏原理改进的浊点压力法,测定了3种亲二氧化碳聚合物增黏剂PCA、PCB和PCC在超临界二氧化碳中的电阻-压力曲线,得到了3种聚合物的浊点压力.实验结果表明:聚合物PCA和PCB的浊点压力低于PCC;3种聚合物的浊点压力随着聚合物相对分子质量和聚合物质量分数的增大而增大,随着助溶剂CS质量分数的增大而减小,随着温度的升高而增大.在35℃时,PCA和PCB均能用作超临界二氧化碳压裂液增黏剂,在55℃时PCB的效果更佳.采用光敏法可以准确地测量超临界流体体系的浊点压力,对同类实验具有借鉴意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭春清		1	2	1.0	1.0
2	李卫卫		1	2	1.0	1.0