基于BCH算法的高速缓存纠检错方案研究

• 作者: 张伟功 杨志涛 王晶 王珍珍
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: BCH 码 单粒子效应 并行 高速缓存 检错
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 页码范围: 124-128
• 页数: 5页
• 分类号: TP302.8
• 语种: 中文

摘要

针对抗辐射微处理器的容错需求，特别是在高速缓存中由单粒子效应造成的多位翻转故障，设计了一种高速缓存纠检错方案，以LEON2处理器为研究平台，分别对指令Cache和数据Cache的标记存储器和数据存储器设计并行的BCH编码器和译码器，实现多达4位错误的检测。针对检测到的多位错误，利用存储层次特征，实现对故障的有效规避。以LEON2处理器为研究平台的仿真结果证明，该方案能够有效应对高速缓存中单粒子效应所引发的多位错误，并且方案的资源开销和性能开销都比较小，为未来纳米级微处理器的容错设计提供了支撑。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张伟功	首都师范大学信息工程学院	43	138	6.0	9.0
3	王晶	首都师范大学信息工程学院	24	58	4.0	5.0
7	王珍珍	首都师范大学信息工程学院	3	7	1.0	2.0
8	杨志涛		1	6	1.0	1.0