数显卡尺检测仪与精度分析

• 作者: 吴静静 周德强 孙春龙 安伟 张洪 杜汶励
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 检测仪 机械结构 数显卡尺 仪器误差
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 仪表与传感器
• 页码范围: 5-7,12
• 页数: 4页
• 分类号: TH711
• 字数: 2730字
• 语种: 中文

摘要

数显卡尺作为制造业中常见的测量工具,它的精度直接影响被测件的结果.保证数显卡尺的读数精度,除了合理安排制造过程,还需要对数显卡尺定期检测.针对数显卡尺的人工检测方法介绍了一种自动化检测仪的机械结构,分析了该机械结构在检测过程中产生的几种误差.结果表明,该检测仪可以用于数显卡尺的检测.