SGS测量技术中的计数率损失校正方法试验研究

• 作者: 何丽霞 卢文广 甘霖 邵婕文 郜强 隋洪志
• 来源期刊: 电气时代
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 自动化系统
• 页码范围: 93-96
• 页数: 4页
• 语种: 中文

摘要

由于放射性物质发射γ射线的时间间隔是服从泊松分布的随机变量.同时γ射线在探测器中的整个物理过程以及谱仪对输入信号的处理过程都需要一定时间来完成.对于这段时间中到达的其它射线,谱仪将不能正确地予以处理.这段系统失效的时间被称为死时间.由于死时间的存在,谱仪记录到的射线计数率将低于实际达到探测器的射线与晶体反应的计数率,形成谱仪的计数率损失.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	甘霖		10	17	3.0	3.0
2	卢文广		5	21	3.0	4.0
3	隋洪志		14	46	4.0	6.0
4	何丽霞		13	21	3.0	4.0
5	邵婕文		8	11	2.0	3.0
6	郜强		8	26	3.0	5.0