基于STM32的低频数字频率特性测试仪的设计

• 作者: 席泽敏 张文成 闫晓萍 陈聪聪
• 来源期刊: 舰船电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: STM32 数字频率特性测试仪 AD8302 幅频特性
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 测试与测量技术
• 页码范围: 145-150
• 页数: 6页
• 分类号: TH741
• 字数: 3979字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9730.2016.12.033

摘要

介绍一种基于STM32的低频数字频率特性测试仪的设计原理和实现方法,并给出了校准方法与测试方法.该数字频率特性测试仪以STM32为微处理器,采用AD9854产生DDS信号源信号,并配置其内部的12位数字乘法器实现更为精确的0.1dB步进的衰减网络,使用电流反馈型运算放大器AD8009作为信号调理及放大电路,利用AD8302实现幅度相位检测.实际测试表明,该测试仪具有成本低、误差小、维护方便等特点,可满足工程和教学中的频率特性测试需要,具有广泛的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	席泽敏	海军工程大学电子工程学院	73	291	9.0	12.0
2	陈聪聪	海军工程大学电子工程学院	2	6	1.0	2.0
6	张文成		1	6	1.0	1.0
7	闫晓萍		2	10	2.0	2.0