老化实验条件下的IGBT寿命预测模型

• 作者: 冉立 徐盛友 王学梅 赖伟 陈民铀
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 寿命模型 功率循环 Weibull分布 Arrhenius广延指数模型 IGBT
• 年，卷（期）: 2016,（24）
• 所属期刊栏目: 电力电子
• 页码范围: 173-180
• 页数: 8页
• 分类号: TM46
• 字数: 3464字
• 语种: 中文

摘要

以器件功率循环为基础，在疲劳损伤理论基础上建立功率器件寿命模型，以提高变流器的运行可靠性，为功率变流器的检修维护提供理论基础。给出了器件寿命预测模型的使用价值和意义，通过分析功率器件失效机理，设计了功率循环实验平台和老化实验方案，阐述了老化实验原理并给出了老化参数提取方法。利用 Weibull 分布建立了器件的一维寿命模型并分析了该模型的优缺点，提出了改进的器件三维寿命模型，通过对比、分析证明了该模型的准确性，得到的Arrhenius广延指数模型更能体现器件寿命分布。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王学梅	华南理工大学电力学院	30	566	11.0	23.0
2	冉立		3	212	2.0	3.0
3	陈民铀		7	131	4.0	7.0
4	赖伟		1	0	0.0	0.0
5	徐盛友		1	0	0.0	0.0