交直流老化后ZnO压敏电阻宏观电容量随时间变化的特性分析

• 作者: 张洁茹 徐乐 柏杨 游志远 胡玉玲
• 来源期刊: 中国电力
• 学科: 工学
• 关键词: 氧化锌压敏电阻 肖特基势垒 交直流老化 宏观电容量 砖块模型
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 电网
• 页码范围: 14-19
• 页数: 6页
• 分类号: TM241
• 字数: 4311字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11930/j.issn.1004-9649.2016.11.014.06

摘要

针对ZnO压敏电阻在交、直流老化作用后,其宏观电容量随时间变化特性的问题,基于砖块模型(block model)对影响ZnO压敏电阻宏观电容量的相关参数进行了理论分析,通过对ZnO压敏电阻样品分别施加不同时长的交流以及直流老化试验时,发现ZnO压敏电阻的宏观电容量在接受交、直流老化后随着时间的延长呈现先降低后增长的趋势;当交、直流老化时间较短时,宏观电容量相较初始值存在小幅降低,而当交、直流老化时间较长时,宏观电容量相较初始值存在大幅的增长,得出宏观电容量随时间的变化是由界面态俘获电子的释放过程以及晶界层热破坏过程共同作用所导致的结论,这对研究ZnO压敏电阻的老化特性具有一定的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡玉玲		8	82	5.0	8.0
2	徐乐		6	19	3.0	4.0
3	游志远		4	6	1.0	2.0
4	柏杨		4	0	0.0	0.0
5	张洁茹		2	32	1.0	2.0