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摘要:
本文利用虚拟仪器技术进行了二极管,三极管伏安特性测试系统的研究设计.硬件平台选用NI公司的PCI-6251数据采集卡,实现数据的产生与采集;软件利用NI公司的LabVIEW 8.2开发平台完成.整个测试系统能方便的完成二极管,三极管的特性参数测试.
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文献信息
篇名 基于虚拟仪器的半导体特性参数测试仪的设计与研究
来源期刊 电子世界 学科
关键词 虚拟仪器 LabVIEW 数据采集 伏安特性曲线
年,卷(期) 2016,(6) 所属期刊栏目 探索与观察
研究方向 页码范围 79-81
页数 3页 分类号
字数 954字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 魏淑华 北方工业大学电子信息工程学院微电子学系 16 8 2.0 2.0
2 闫强强 北方工业大学电子信息工程学院微电子学系 2 0 0.0 0.0
3 秦东风 北方工业大学电子信息工程学院微电子学系 2 0 0.0 0.0
4 马亮亮 北方工业大学电子信息工程学院微电子学系 1 0 0.0 0.0
5 陈勇达 北方工业大学电子信息工程学院微电子学系 1 0 0.0 0.0
6 郝铁营 北方工业大学电子信息工程学院微电子学系 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
虚拟仪器
LabVIEW
数据采集
伏安特性曲线
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
半月刊
1003-0522
11-2086/TN
大16开
北京市
2-892
1979
chi
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