基于AD9834的TSI校验仪设计

• 作者: 徐春生
• 来源期刊: 机电工程技术
• 学科: 工学
• 关键词: 仪器仪表技术 校验仪 TSI DDS AD9834
• 年，卷（期）: 2016,（z1）
• 页码范围: 26-34
• 页数: 9页
• 分类号: TN707
• 字数: 2761字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.jssn.1009-9492.2016.z1.005

摘要

本系统设计采用单片机ADUC841作为主控芯片，基于DDS（Direct Digital Synthesizer）AD9834芯片，通过程序控制产生各种波形信号。外围电路有DAC、信号调理、功率放大电路等组成。在LCM功能显示界面的提示下，通过操作按键产生各种信号输出连接到TSI系统的传感器信号输入端，以实现TSI校验。校验仪设计功能丰富，人机界面友好，操作简便。所有参数全数字设定，关联参数自动调整，且系统存有多种标准模式下的参数，用户易于切换选用而不必担心复杂的参数设计。在校验过程中，关键参数可动态调整，以便于TSI系统的保护功能试验。应用此设计的TSI校验仪输出准确可靠，完全满足使用需求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐春生		1	0	0.0	0.0