LTD次级多层薄膜绝缘的击穿概率分析

• 作者: 曾创 郑晓泉 雷伟群
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: LTD 次级绝缘 薄膜绝缘 击穿概率 分布函数 Weibull分布
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 931-935
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20160310002

摘要

LTD次级多层薄膜绝缘子层数达几百、上千层,利用厚几十μm的高本征击穿强度薄膜制作强度更高或者更紧凑的低感绝缘子是这种绝缘的发展方向.在新型绝缘子研制中,希望以较小规模(层数)试样的击穿实验数据预测较大规模绝缘子在一定场强下的击穿概率.为此基于Weibull型半经验分布函数模型,利用一组较小规模多层绝缘试样的击穿实验数据进行拟合得到模型参数,导出分析预估多层薄膜绝缘子击穿概率的公式,进而建立了分析预估较大规模多层绝缘击穿概率的计算方法.多层薄膜绝缘的击穿强度随层数增多而降低,击穿概率随层数增多而增大,但击穿强度降低和击穿概率增大的速率随层数增多而逐步减小.如将1 000层绝缘分为10组,每组100层薄膜,仅需对其中一组薄膜每增加10层进行一次击穿实验(共10次),即可计算得到1 000层绝缘的击穿概率.本方法适用于稍不均匀电场多层薄膜绝缘在一定平均场强下的击穿概率计算.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑晓泉		89	1360	21.0	33.0
2	雷伟群		3	5	1.0	2.0
3	曾创		1	0	0.0	0.0