DC绝缘阻抗测试仪的设计与实现

• 作者: 张志坚 杨雷 陈平平
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 绝缘阻抗 Cortex-M3 直流高压 阻抗测试仪
• 年，卷（期）: 2016,（18）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件
• 页码范围: 139-141,145
• 页数: 4页
• 分类号: TN624+.1-34|TM855
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2016.18.035

摘要

针对电子电气等产品在生产过程中需进行DC绝缘阻抗测试的要求，设计并实现了一种基于Cortex?M3的DC绝缘阻抗测试仪。该测试仪以Cortex?M3作为核心控制器，配置DC高压产生电路、信号采集调理电路和LCD显示电路，从而达到对产品进行实时有效绝缘阻抗测试的目的。经实验证明，该测试仪能进行1 MΩ～10 GΩ的绝缘阻抗测量，且具有输出功率大、测量精度高等优点，可广泛应用于各类电子、电气等产品生产企业。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张志坚	东莞理工学院电子工程学院	39	110	5.0	9.0
2	杨雷	东莞理工学院工程技术研究院	68	406	11.0	16.0
3	陈平平	东莞理工学院电子工程学院	16	16	3.0	3.0