支柱瓷绝缘子污层泄漏电流及干带产生的边界条件研究

• 作者: 刘翔 向铁元 周军 张锐 袁田
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 污秽 瓷支柱绝缘子 污层干带 频谱 谐波畸变率 凝结水
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 输配电设备状态评价与故障诊断
• 页码范围: 214-222
• 页数: 9页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2016.01.028

摘要

为了研究瓷支柱绝缘子污层干带产生的边界条件,建立了污层泄漏电流观测平台.通过对24～110 kV瓷支柱绝缘子污秽试验(固体层法)泄漏电流的频谱和雾室的温度、湿度参数测量和分析基础上,深入讨论了污秽试验中污层干带产生的边界条件.试验发现,通过4 000 Hz采样频率和频段的计算方法可减少频谱的偏频和泄漏问题;当初始湿度条件相近时(相对湿度55％～62％),干带产生前一刻的谐波畸变率在0.1733～0.3345,相同灰密下(1.0mg/cm2),盐密同基波分量成正比;相同盐密下(0.1 mg/cm2),灰密与雾室内绝对湿度(等同于污层水分交换速率)成正比,并给出了趋势曲线和拟合式.通过对污层频谱测量发现,污层中水分含量与泄漏电流相互制约,在干带产生边界前处于平衡中相互促进状态,谐波畸变率(THD)可灵敏地反映污层的水量.当干带产生和污层水量减少时,谐波畸变率(THD)迅速增高,泄漏电流频谱成波包形连续递减波形.