用电子引伸计对光栅测微传感器进行期间核查的探索

• 作者: 张浩 房永强 杨军红 郑晓斐
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: 光栅测微传感器 电子引伸计标定器 期间核查
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 页码范围: 55-56,57
• 页数: 3页
• 分类号: P212.1
• 字数: 3260字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15988/j.cnki.1004-6941.2016.10.025

摘要

文章探讨了使用电子引伸计标定器对光栅测微传感器进行期间核查，期间核查结果与计量部门校准结果基本一致。此方法操作简单，可靠性高，为实验室核查提供了一种便捷可靠的期间核查方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	房永强		20	15	2.0	2.0
2	郑晓斐		25	21	3.0	3.0
3	杨军红		42	81	5.0	7.0
4	张浩		15	14	2.0	2.0