手机连接器插拔力仿真分析

• 作者: 余宁 杨志坚 蔡川 郑泰山
• 来源期刊: 机电工程技术
• 学科: 工学
• 关键词: 连接器 有限元分析 插拔力
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 47-50
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.77
• 字数: 2201字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9492.2016.11.012

摘要

针对双Nano+T多合一卡连接器铁壳弹片设计的可行性,应用有限元方法对插拔过程进行仿真计算,得到了其插拔过程中的插拔力、保持力、疲乏等力学参数,并对分析结果合理性进行探讨,依此评估连接器结构设计均满足预期的力学性能要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余宁		17	27	3.0	3.0
2	郑泰山		9	30	4.0	5.0
3	杨志坚		2	1	1.0	1.0
4	蔡川		4	8	1.0	2.0