基于神经网络的功率模块开关损耗预测

• 作者: 李志刚 梅霜
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 功率模块 开关损耗 神经网络 损耗预测
• 年，卷（期）: 2016,（20）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件
• 页码范围: 101-103,107
• 页数: 4页
• 分类号: TN926-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2016.20.025

摘要

功率半导体器件的开关损耗的准确预测和评估对研究系统设计、选择合适的散热系统和提高系统的可靠性都是很重要的。采用功率半导体器件的开关动态测试系统，可以自动调整直流母线电压、集电极电流、门极驱动电压和开关频率，记录开关动态电压、电流波形，计算获得大量的损耗数据。通过建立人工神经网络模型对开关损耗预测，并改变模型参数进行分析与研究，获取最佳模型。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志刚	河北工业大学电气工程学院	150	975	15.0	22.0
2	梅霜	河北工业大学电气工程学院	7	45	3.0	6.0