基于PC上位机构建测试系统研究

• 作者: 叶小燕 滕飞
• 来源期刊: 企业科技与发展
• 学科: 工学
• 关键词: PC 上位机 测试系统
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 所属期刊栏目: 企业科技创新
• 页码范围: 53-55
• 页数: 3页
• 分类号: TP182
• 字数: 1530字
• 语种: 中文

摘要

随着科技的不断发展,人们对测试设备的要求越来越高,目前测试系统正朝着微型、低耦合度、高可重用性和强扩展能力等方向发展,以PC上位机模式构建的测试系统应运而生.这种模式构建的测试系统凭借低成本和高可靠性衍生出非常多的产品,并被广泛应用于工业测试和控制领域.文章旨在分析PC上位机测系统共性工作原理,结合以散热系统测试研究的风洞测试系统案例,为搭建测试系统提供参考和帮助.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶小燕		1	1	1.0	1.0
2	滕飞		1	1	1.0	1.0