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摘要:
采用直流磁控溅射镀膜工艺,在不同的氮氩流量比条件下,制备了玻璃基TiN薄膜.通过X射线衍射仪(XRD)、场发射扫描电子显微镜(SEM、EDS)、纳米显微硬度仪,研究了TiN薄膜的组织结构、物相组成、表面形貌、元素成份、维氏硬度,分析了氮氩流量比对TiN薄膜结晶取向、硬度的影响机理.结果表明,在低的氮氩流量比条件下,TiN薄膜以(111)晶面择优取向;随着氮氩流量比增加,择优取向由(111)晶面向(200)晶面过渡;氮氩流量比为1∶2时薄膜以(200)晶面择优取向;继续增加氮氩流量比(1∶2 ~2∶1),TiN薄膜衍射峰强度降低,晶粒尺寸减小;当氮氩流量比增加到2∶1时,薄膜开始呈现非晶态.随着氮氩流量比的增加,薄膜硬度呈现先增加后减小的趋势;当氮氩流量比为1∶1时,TiN薄膜以(200)晶面择优取向结晶,组织致密均匀,晶粒尺寸最小,具有最大的硬度值(825 HV),相比未镀膜的玻璃基片,硬度值增加了20.44%.
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文献信息
篇名 氮氩流量比对玻璃基TiN薄膜的结构和硬度的影响
来源期刊 硅酸盐通报 学科 物理学
关键词 磁控溅射 玻璃基TiN薄膜 硬度 氮氩流量比
年,卷(期) 2016,(12) 所属期刊栏目 研究快报
研究方向 页码范围 4076-4081
页数 6页 分类号 O484
字数 3842字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵修建 武汉理工大学硅酸盐建筑材料国家重点实验室 220 2735 25.0 43.0
2 赵青南 武汉理工大学硅酸盐建筑材料国家重点实验室 45 423 12.0 19.0
4 丛芳玲 武汉理工大学硅酸盐建筑材料国家重点实验室 4 5 2.0 2.0
7 刘旭 武汉理工大学硅酸盐建筑材料国家重点实验室 16 77 4.0 8.0
8 罗乐平 武汉理工大学硅酸盐建筑材料国家重点实验室 4 5 2.0 2.0
9 顾宝宝 武汉理工大学硅酸盐建筑材料国家重点实验室 4 5 2.0 2.0
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1001-1625
11-5440/TQ
16开
北京市朝阳区东坝红松园1号中材人工晶体研究院733信箱
80-774
1980
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