二次偏振调制测距系统中调制频率与测距精度的关系?

• 作者: 于晋龙 于洋 王子雄 王文睿 王菊 肖洋 薛纪强 谢田元
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 激光测距 二次偏振调制 变频测距 调制频率
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 所属期刊栏目: 总论
• 页码范围: 100601-1-100601-6
• 页数: 1页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.65.100601

摘要

本文在基于二次偏振调制激光测距系统的基础上，对调制频率与激光测距系统精度的关系做了深入的理论推导和实验验证.最终得出结论：相位法激光测距系统的测量精度会随着调制频率的增大而提高，且精度的提高程度正比于调制频率的不确定度?f与测程范围内半波长数N值的比值.并通过选取合适的调制频率来提高系统的测距精度，提高后的测距精度可达10?7.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于晋龙	天津大学电子信息工程学院	105	521	13.0	16.0
2	于洋	天津大学电子信息工程学院	15	141	7.0	11.0
3	王文睿	天津大学电子信息工程学院	43	104	7.0	9.0
4	肖洋	天津大学电子信息工程学院	4	9	1.0	3.0
5	王菊	天津大学电子信息工程学院	30	64	5.0	7.0
6	王子雄	天津大学电子信息工程学院	7	17	2.0	4.0
7	谢田元	天津大学电子信息工程学院	2	8	1.0	2.0
8	薛纪强	天津大学电子信息工程学院	3	20	2.0	3.0