基于改进BP算法的软件缺陷预测模型研究

• 作者: 韩智慧
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 缺陷预测模型 模拟退火算法 JCUDA技术 BP算法
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 电子技术应用
• 页码范围: 136-140
• 页数: 5页
• 分类号: TN915-34|TQ028.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2016.11.033

摘要

针对传统软件测试成本高及测试过程依赖于软件用例的设置等问题，设计了基于BP，JCUDA_BP和JCUDA?SA_BP的软件缺陷预测模型，并通过调研、实验的方式对基于改进BP算法的软件缺陷预测算法进行了相关的研究分析，探讨了JCUDA技术对于BP算法的影响，证明了模拟退火算法与JCUDA技术相结合的方式具有改进软件缺陷预测模型的可能性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩智慧	长春科技学院信息工程学院	28	26	3.0	3.0