磁珠低温性能引发的中断故障

• 作者: 刘玉成 杨宗杰
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 低温 中断 引言
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 计测技术
• 页码范围: 73-74
• 页数: 2页
• 分类号: O514.2
• 字数: 999字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15988/j.cnki.1004-6941.2016.11.034

摘要

某产品在生产中出现低温下中断故障,引发产品多项测试失败,导致多项参数测试失败,通过对故障的分析和验证,最终确定为磁珠低温性能引发的中断故障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘玉成		3	3	1.0	1.0
2	杨宗杰		4	3	1.0	1.0