基于VEE的频谱分析仪自动校准系统设计

• 作者: 康自明 张沧庆 赵文明
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 频谱分析仪 自动测试 VEE
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 计测技术
• 页码范围: 62-64
• 页数: 3页
• 分类号: TM935.21
• 字数: 1819字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15988/j.cnki.1004-6941.2016.11.028

摘要

针对被测频谱分析仪的参数较多,校准用仪器设备较多,人工手动校准工作量较大等因素,提出了频谱分析仪的自动校准.基于VEE软件平台,设计了频谱分析仪的自动校准系统,由计算机控制测试仪器自动进行频谱分析仪的测试、数据采集、数据处理并以适当方式输出测试结果,有效的提高了工作效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张沧庆	中国电子科技集团公司第五十四研究所	7	4	1.0	1.0
2	赵文明	中国电子科技集团公司第五十四研究所	8	6	2.0	2.0
3	康自明	中国电子科技集团公司第五十四研究所	7	6	2.0	2.0