高分子薄膜表征技术?

• 作者: 张晓华 曾娴 杨朝晖
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 高分子薄膜 纳米 表征技术
• 年，卷（期）: 2016,（17）
• 所属期刊栏目: 专题：软物质研究进展
• 页码范围: 176801-0-176801-15
• 页数: 1页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.65.176801

摘要

随着纳米技术在微电子、生物医药、能源等领域的快速发展，如何在纳米尺度构筑性能稳定、性质均一的多功能纳米器件已成为纳米科技领域最具有挑战性的前沿技术之一。具有广泛应用前景的高分子薄膜的制备、性质以及应用研究一直以来都受到学术界与工业界的高度关注对高分子薄膜的内部结构、表面形貌、机械性能、电化学性能等的检测一直是高分子领域的主要研究热点之一。本文综述了高分子薄膜的测试方法，包括原子力显微镜、电子显微镜、X光散射、中子散射、椭圆偏振光等表征技术。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾娴	苏州大学软凝聚态物理及交叉研究中心	1	4	1.0	1.0