角反射体RCS微波暗室测量及分析

• 作者: 吕可 郑威
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 雷达散射截面 紧缩场 矢量网络分析仪 仿真计算
• 年，卷（期）: 2016,（9）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 28-31
• 页数: 4页
• 分类号: TM931
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2016.09.008

摘要

角反射体雷达散射截面(RCS)的测量是雷达目标识别、成像等研究领域的一个关键环节;在对目标RCS测量原理分析的基础上,介绍了一个在微波暗室中基于紧缩场和矢量网络分析仪测量目标RCS的测量系统;利用该系统对角反射体垂直姿态和45°姿态的RCS进行了360度转角扫频的测量,结果与FEKO软件仿真计算的结果对比表明,两种方法得到的数据走势基本一致.