基于带约束TSVD方法的粒径分布反演

• 作者: 张彪 王式民 许传龙
• 来源期刊: 化工学报
• 关键词: TSVD正则化 光全散射法 参数估值 粒度分布 数值模拟
• 年，卷（期）: 2016,（z1）
• 所属期刊栏目: 过程系统工程
• 页码范围: 312-317
• 页数: 6页
• 分类号: TK124
• 语种: 中文
• DOI: 10.11949/j.issn.0438-1157.20160525

摘要

利用光全散射法,在独立模式下通过测量可见光不同波段下的光谱消光值反演几种常见粒径分布,其中正问题利用反常衍射近似(ADA)计算得到估计值,测量值通过Mie理论计算得到,反问题利用截断奇异值分解(TSVD)的正则化方法,并结合粒径分布非负和粒径分布积分和为1两个约束条件优化反演结果,通过数值模拟证明了带约束的TSVD方法在粒径分布的反演中具有更高的反演精度、稳定性和抗噪性.