基于多开口田字形宽频带低损耗左手材料?

• 作者: 吴良威 张正平
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 左手材料 多开口田字形 宽频带 低损耗
• 年，卷（期）: 2016,（16）
• 所属期刊栏目: 原子和分子物理学
• 页码范围: 164101-1-164101-6
• 页数: 1页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.65.164101

摘要

提出了一种基于多开口田字形单元结构实现材料左手特性的设计方案.该结构是在介质基板单侧集成电、磁谐振器形成左手单元.通过理论分析、软件仿真、加工测试、提取有效电磁参数,结果表明该结构在12.7—21.1 GHz范围内具有双负特性(等效介电常数ε<0,等效磁导率μ<0),基本覆盖Ku波段,绝对带宽可达8.4 GHz,单元损耗低于0.3 dB.同传统的左手材料相比,该结构以更小的单元尺寸,更低的损耗实现了更宽的左手频带,为宽频带、低损耗微波左手材料的设计及广泛应用提供了重要参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张正平	贵州大学大数据与信息工程学院	95	328	9.0	14.0
2	吴良威	贵州大学大数据与信息工程学院	1	11	1.0	1.0