快速高精度电子元件温度特性测量仪的研制

• 作者: 李阳 林少鹏 王延珺 王彪 马德才
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 半导体致冷器 单片机 温度特性曲线
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 智能仪器与传感技术
• 页码范围: 285-288
• 页数: 4页
• 分类号: TP23
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2016.03.078

摘要

大多数电子元器件的性能受到工作温度的影响,其温度特性对设备稳定性和精确度的影响不容忽视;以半导体致冷器(TEC)为核心,ATMega128A单片机为控制芯片,采用PT100、高精度恒流源和AD7731数模转换器(ADC)组成温度测量模块,运用改进的PID控制算法,以脉冲宽度调制(PWM)方式驱动优化的H桥精确控制加热和制冷功率,结合优化设计的变温腔体,制作了快速、高精度电子元件温度特性测量仪;在-10～80℃之间快速、稳定控制待测元件的温度,控温精度达到±0.2℃;通过计算机控制数字万用表等测量设备,测量了电阻、电容和电感的温度特性曲线;该测量仪还可以用于IC、三极管和LED等元器件的温度特性曲线研究;在实验研究、工业生产和电子实验教学中均具备很高的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王延珺		1	8	1.0	1.0
2	李阳		1	8	1.0	1.0
3	马德才		1	8	1.0	1.0
4	林少鹏		1	8	1.0	1.0
5	王彪		1	8	1.0	1.0