篇名 | A uniform doping ultra-thin SOI LDMOS with accumulation-mode extended gate and back-side etching technology | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | LDMOS accumulation gate back-side etching breakdown voltage specific on-resistance | ||
年,卷(期) | 2016,(2) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 436-440 | |
页数 | 5页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 中文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/25/2/027306 |