DCS嵌入式设备参数测量方法的研究与仿真

• 作者: 刘强
• 来源期刊: 计算机仿真
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式 参数测量 频率倒谱系数
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 仿真服务化
• 页码范围: 410-413
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.9
• 字数: 3784字
• 语种: 中文

摘要

针对DCS分布式控制系统中的嵌入式参数进行准确测量,要求DCS设备的分布式高精度控制.但DCS设备以分布式控制为主,设备参数之间的相互影响较为复杂.大部分控制参数为非线性参数,参数变化动态性较强.传统的测量算法无法避免非线性控制过程中参数的动态变化,导致参数测量的准确性降低.提出基于频率倒谱系数的DCS嵌入式参数测量方法.采用余弦变换的方法对测量参数的不同频段的频谱进行分解,使不同的频谱都独立出来;通过汉明窗(Hammin)对测量参数进行分帧处理,使用三角形滤波器进行滤波处理,对Mel频率进行转换得到频率倒谱系数(MFCC),并进行一阶差分处理,得到准确的DCS嵌入式参数,完成DCS嵌入式参数的测量.仿真结果表明,改进算法能够提高DCS嵌入式参数测量的准确率和速度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘强	四川师范大学成都学院	11	35	2.0	5.0