X-射线荧光光谱法测定萤石中的氟化钙、二氧化硅含量

• 作者: 张婕 罗文
• 来源期刊: 技术与市场
• 关键词: X-射线荧光光谱法 萤石 试验 氟化钙 二氧化硅
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 专题研究
• 页码范围: 215-215,217
• 页数: 2页
• 字数: 2074字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8554.2016.04.140

摘要

应用X-射线荧光光谱法( XRFS)测定了萤石中氟化钙、二氧化硅含量，通过化学法测定萤石中可溶于弱酸的钙量，从总钙量中减去，得出氟化钙中的钙量，从而求得氟化钙含量。方法的精密度和准确度良好，能满足生产要求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张婕		6	3	1.0	1.0
2	罗文		5	1	1.0	1.0