PSO优化LS-SVM在模拟电路故障预测中的应用

• 作者: 任晴 张彦斌 祁涛 邸凯
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: LS-SVM PPMCC 欧几里得距离 健康度 PSO
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 4-7
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2016.03.002

摘要

针对模拟电路故障预测的特点,提出一种基于PSO优化LS-SVM惩罚因子和核参数的模拟电路故障预测方法;利用小波包分解重构构造能量特征向量,通过计算PPMCC和欧氏距离来表征电路中元件的健康程度,定义为健康度,由此推导出电路发生故障时该元件的故障阈值;应用PSO优化的LS-SVM模型来实现模拟电路的故障预测,预测各个时间点的健康度变化轨迹并估计模拟电路的剩余寿命;通过仿真实验得知,该方法简单便捷,能够有效实现模拟电路的故障预测,具有较好的实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张彦斌	军械工程学院火炮工程系	37	288	7.0	16.0
2	祁涛	军械工程学院火炮工程系	5	18	2.0	4.0
3	任晴		1	10	1.0	1.0