基于BH1750FVI的绝缘子灰密测量系统设计

• 作者: 吴世林 彭警
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 灰密 绝缘子 高压设备 积污 光强传感器
• 年，卷（期）: 2016,（20）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 1-2
• 页数: 2页
• 字数: 2279字
• 语种: 中文

摘要

灰密(非可溶沉积物密度,NSDD)是指附着在绝缘子表面不能溶解于水的物质除以表面积得到的结果,用于定量标示绝缘子表面非可溶残渣的含量.通过对高压设备外绝缘的表面进行灰密测量,可以了解线路绝缘子的积污情况,确定它是否能承受各种不利因素的影响.本文提出了一种基于BH1750FVI光强传感器测量灰密的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴世林	武汉纺织大学机械工程与自动化学院	11	6	1.0	1.0
2	彭警	武汉纺织大学机械工程与自动化学院	3	6	2.0	2.0