聚酰亚胺电导率随温度和电场强度的变化规律

• 作者: 唐小金 孙永卫 易忠 武占成 王松
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 介质深层充电 绝缘介质 聚酰亚胺 温度和强电场对电导率的作用
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 气体、等离子体和放电物理
• 页码范围: 248-254
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.65.025201

摘要

介质深层充电对航天器安全运行构成了重大威胁.以聚酰亚胺为代表的此类聚合物绝缘介质的电导率受温度影响显著,又因为充电过程中局部产生强电场(107 V/m量级),因此,其电导率模型需要综合考虑温度和强电场的影响,这对介质深层充电的仿真评估意义重大.已有的两类模型,不是低温区间不适用,就是没有充分考虑强电场的影响.基于跳跃电导理论,本文分析对比了现有电导率模型,提出了适用于较宽温度范围且合理考虑强电场增强效应的电导率新模型,并采用某型聚酰亚胺电导率测试数据做出验证.此外,为了提高新模型在强电场下的低温适用范围,尝试对强电场因子中的温度做变换,取得了满意的效果.参数敏感度分析表明新模型在电导率拟合与外推方面具有参数少、适用性强的优势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	武占成	军械工程学院静电与电磁防护研究所	87	567	12.0	18.0
2	孙永卫	军械工程学院静电与电磁防护研究所	64	408	12.0	16.0
3	易忠		70	301	9.0	13.0
4	王松	军械工程学院静电与电磁防护研究所	19	74	6.0	7.0
6	唐小金		13	66	5.0	7.0