原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
传统板级硬件功能验证方法使用示波器或逻辑分析仪对引出管脚进行测试,灵活性差,不适用于星载大容量NAND FLASH存储阵列。提出一种通过FPGA控制NAND FLASH复位和读ID操作,并自动遍历所有存储芯片的方法,配合ChipScope Pro工具在线仿真,实现星载NAND FLASH板级功能快速验证。实验结果表明,该方法简单有效,并可根据仿真验证结果快速做出板级功能有效性判断。
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文献信息
篇名 一种星载NAND FLASH板级功能快速验证设计
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 NAND FLASH 星载存储器 硬件功能验证 ChipScope 并行扩展
年,卷(期) 2016,(14) 所属期刊栏目 计算机应用技术
研究方向 页码范围 32-34,38
页数 4页 分类号 TN911-34|TP319
字数 语种 中文
DOI 10.16652/j.issn.1004-373x.2016.14.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 朱岩 中国科学院复杂航天系统电子信息技术重点实验室 44 373 11.0 18.0
10 董振兴 中国科学院复杂航天系统电子信息技术重点实验室 11 27 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
NAND FLASH
星载存储器
硬件功能验证
ChipScope
并行扩展
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
总下载数(次)
0
总被引数(次)
135074
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