Buck电路IGBT老化失效的特征分析

• 作者: 姜志鹏 杨娟 阎浩
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: IGBT Buck电路 老化失效 特征分析
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件
• 页码范围: 126-129
• 页数: 4页
• 分类号: TN710-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2016.08.033

摘要

绝缘栅双极型晶体管（IGBT）常被应用于汽车、火车的电机控制系统以及航空航天设备的开关电源中。IGBT的失效会导致系统的效率下降，严重的会直接导致系统失效。通过识别和监测IGBT失效所导致电路特性参数的变化可以做到对其失效的预测和避免。为研究IGBT老化是否会对电路输出特性造成影响，以Buck电路为研究对象，设计了大电流下便于替换IGBT的Buck电路，对IGBT进行热应力老化实验，获取老化后的IGBT，并将老化后的IGBT引入到设计的Buck中，实验分析了IGBT老化对于Buck电路输出电压的影响。得出IGBT的老化会导致Buck电路输出电压平均值增大、高频杂波幅值增大的结论，为进一步实现电路中IGBT老化的检测以及初期的故障诊断提供了可供提取的特征参数。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阎浩	金陵科技学院电子信息工程学院	21	77	5.0	8.0
2	姜志鹏	金陵科技学院电子信息工程学院	25	121	6.0	10.0
3	杨娟	金陵科技学院电子信息工程学院	17	59	4.0	7.0