全回路电阻测试方法在10kV-35kV高压开关柜试验中的应用探讨

• 作者: 李德荣
• 来源期刊: 电子制作
• 关键词: 全回路电阻 测试方法 高压开关柜试验
• 年，卷（期）: 2016,（15）
• 所属期刊栏目: 电子测量
• 页码范围: 40-41
• 页数: 2页
• 字数: 2617字
• 语种: 中文

摘要

开关柜内设备过热严重影响电力系统的运行，本文对开关柜内一次设备产生过热原因进行分析，并基于单个设备直流电阻测试，提出在10kV-35kV高压开关柜试验中应用全回路电阻测试，从而对全回路内一次设备接触情况进行判断，找出导致过热的原因。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李德荣	国网山东省电力公司汶上县供电公司	2	7	2.0	2.0