通用电子产品全寿命周期可靠性分析方法

• 作者: 李磊 董玉兰 郑丽云
• 来源期刊: 魅力中国
• 关键词: 电子产品 全寿命周期 可靠性分析 方法
• 年，卷（期）: 2016,（49）
• 所属期刊栏目: 科学论坛
• 页码范围: 150
• 页数: 1页
• 字数: 2711字
• 语种: 中文

摘要

可靠性是电子产品的不可见质量.通用电子产品的故障事件频发,但是,现有的针对电子产品可靠性的研究却过于"专一化",尚未对通用电子产品在整个寿命周期过程的可靠性作出全面的分析.如何在电子产品研制、试验、生产、使用和维修的整个寿命周期中,对电子产品的可靠性进行定性分析和量化评价,是通用电子产品可靠性分析评估中急需解决的问题.针对以上问题,提出了一种对电子产品在全寿命周期中的可靠性进行定性与定量分析的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李磊		1	0	0.0	0.0
2	董玉兰		1	0	0.0	0.0
3	郑丽云		3	0	0.0	0.0