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E公司M产品MOS管失效分析
E公司M产品MOS管失效分析
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摘要：
本文研究的是E公司M产品MOS管失效分析，寻找关键失效因子对产品失效进行分析，准确、高效的定位产品失效的具体原因并给出解决措施，同时通过失效分析经验积累，为E公司建立应用预期失效分析消除产品技术状态潜在失效的方法。
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研究主题发展历程
节点文献
E公司
失效
MOS管
炸机
研究起点
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
总下载数（次）
96
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