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摘要:
专业化的IC FT (Final Test)测试是IC产业中的一个重要组成部分,从产品设计开始至完成加工全过程,FT测试是为客户提供合格产品的技术保障.这些年,微电子工艺发展迅猛,IC特征参数不断缩小,产品结构越来越复杂,性能越来越高,同时,对IC FT测试也提出了更加苛刻的要求,例如:IC FT测试温度随之升高,并行度越来越大,因此,设计合理的、可靠的测试接口,是保障测试质量、缩短测试时间、降低测试成本的关键.
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文献信息
篇名 计算机流体仿真技术在测试接口设计中的应用
来源期刊 电子制作 学科
关键词 流体仿真技术 测试接口设计 应用
年,卷(期) 2016,(11) 所属期刊栏目 软件开发
研究方向 页码范围 51-52
页数 2页 分类号
字数 1260字 语种 中文
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1 武明松 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
流体仿真技术
测试接口设计
应用
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子制作
半月刊
1006-5059
11-3571/TN
大16开
北京市
1994
chi
出版文献量(篇)
22336
总下载数(次)
116
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