全抛釉砖单轴加载破坏声发射试验研究

• 作者: 浦蓉 赖于树 龚庆
• 来源期刊: 电子制作
• 关键词: 全抛釉砖 声发射 单轴加载 破坏基理
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 82-83
• 页数: 2页
• 字数: 2760字
• 语种: 中文

摘要

为寻找更有效的全抛釉砖质量检测依据,对全抛釉砖提出更好的设计和使用方案,因此开展全抛釉砖单轴加载破坏全过程声发射试验.通过SAEU2S型数字声发射采集系统直接采集破坏全过程声发射信号波形,通过对不同状态下不同质量的全抛釉砖的振铃计数和能量分析处理,发现声发射信号产生的快慢、强弱及其变化过程与全抛釉砖的试验状态和质量有密切关系,并从声发射信号裂纹扩展角度阐释全抛釉砖破坏基理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赖于树	重庆三峡学院电子与信息工程学院	27	154	8.0	12.0
2	龚庆	重庆三峡学院电子与信息工程学院	1	0	0.0	0.0
3	浦蓉	重庆三峡学院电子与信息工程学院	1	0	0.0	0.0