硅基CCD不均匀性测试

• 作者: 张雄娥
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: 硅基 CCD 不均匀性 光电特性 测试
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 【探索与观察】
• 页码范围: 55-55
• 页数: 1页
• 字数: 1811字
• 语种: 中文

摘要

本文从理论上分析了硅基CCD（电荷耦合器件）不均匀性的原因，并给出了一种硅基CCD不均匀性的测试方法，实验验证该方法可行。实验中的硅基CCD光电响应偏差率在±1%以内。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张雄娥		1	1	1.0	1.0