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电子设备中晶体管类元件的常见故障及测量方法
电子设备中晶体管类元件的常见故障及测量方法
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摘要：
本文详细介绍了电子设备中主要的几种晶体管器件常见故障的判别和测量方法。
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期刊影响力
电子世界
主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
总下载数（次）
96
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46655
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