基于PXI总线通用测试系统的设计

• 作者: 孙志军 纪晓辉
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 基于PXI总线 测试系统 设计
• 年，卷（期）: 2016,（16）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 20-21
• 页数: 2页
• 字数: 2592字
• 语种: 中文

摘要

随着电子技术的不断发展，电子系统已经广泛的应用在了人们生活的各个领域中，并且对电子装备生产和测试技术的要求也越来越高。当前，电子测试内容和对象不断复杂，而且用户对测试速度以及其他方面的要求也越来越高。传统的人工测试已经不再满足当前测试工作的需要，因此必须要大力研究自动测试系统并加强应用，以提高测试工作的效率和质量。PXI总线电子装备测试系统是基于PXI总线的虚拟仪器技术，主要应用于电子装备测试，本研究主要针对电子装备的测试需求，设计了一套基于PXI总线的检测设备。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	纪晓辉		5	11	3.0	3.0
2	孙志军		2	4	1.0	2.0