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浅析微电子电路的校准技术和自动测试
浅析微电子电路的校准技术和自动测试
作者:
郭松梅
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
微电子电路
校准技术
测试技术
摘要:
随着社会的不断进步,无论是工厂的大型电器设备还是日常生活的家用电器都会使用到微电子电路技术,微电子电路是一种以多种半导体器件为基础的高新电子技术集成电路,其具有体积小、重量轻、可靠性高、工作速度快等多种特点。为了确保具有微电子电路的电器的质量,我们必须对其进行严格检测,从而达到对其进行质控的目标。为了确保电器设备中微电子电路的安全可靠性,本文主要针对微电子电路的校准技术和自动测试技术进行了研究,全文分为五个部分:第一部分引言对微电子电路进行了介绍;第二部分分析了微电子电路研究的重要性;第三部分介绍了微电子电路的检测方法;第四部分对探索了微电子电路的测试和校准的具体方法;第五部分对全文进行了总结。同时笔者也希望通过此次研究能够更好的推动我国微电子电器设备的发展,促进我国微电子技术的进步。
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文献信息
篇名
浅析微电子电路的校准技术和自动测试
来源期刊
电子测试
学科
关键词
微电子电路
校准技术
测试技术
年,卷(期)
2016,(13)
所属期刊栏目
测试工具与解决方案
研究方向
页码范围
143-143,128
页数
2页
分类号
字数
832字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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1
郭松梅
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3.0
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研究主题发展历程
节点文献
微电子电路
校准技术
测试技术
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
主办单位:
北京自动测试技术研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-8519
CN:
11-3927/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市100098-002信箱
邮发代号:
82-870
创刊时间:
1994
语种:
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
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