高校电子实验数字集成电路检测仪的设计

• 作者: 王洪凯 王秀梅 王秀艳
• 来源期刊: 科技视界
• 关键词: 数字集成电路 检测 单片机
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 姻姻姻项目与课题
• 页码范围: 74-74,126
• 页数: 2页
• 字数: 1530字
• 语种: 中文

摘要

在高校教学中，电子技术是专业基础课，大量理工科院校课程体系中均设置电子实验、电子工艺实习以及电子课程设计等实践教学环节和内容。课内电子实验和课外科技创新活动中常常遇到IC电路芯片表面标识不清，无法识别其型号，或外观正常但电路内部已损坏等情况。有时做了大量实验后得不到预期数据和正确结果，有时焊接制作好电子成品但不能实现既定功能，最后查出是所选用的IC电路芯片型号错误，或者是芯片自身故障，耽误了时间，降低了效率。以单片机为核心器件，搭建外围电路，建立科学的故障模型，开发一款便携、价廉、精准的数字集成电路的自动检测仪器，可用于大学生电子实验课、电子竞赛、科技创新活动、课程设计、毕业设计以及电子产品装配、电器维修、科研等其他相关领域，用途广泛。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王秀艳		7	10	2.0	2.0
2	王洪凯		5	6	1.0	2.0
3	王秀梅		5	6	1.0	2.0