基于ATCA架构的并发SRIO测试系统设计

• 作者: 孟珞珈
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: SRIO测试系统 ATCA架构 并发测试
• 年，卷（期）: 2016,（18）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 3-5
• 页数: 3页
• 分类号: TN06
• 字数: 2019字
• 语种: 中文

摘要

本文通过对SRIO总线板卡在量产过程中的功能、性能集成测试需求进行分析，并结合当前测试技术发展趋势，提出一种基于ATCA架构的SRIO自动测试系统实现方案，以解决SRIO总线板卡在量产测试时，由于固定SRIO端口号、网络IP以及MAC地址，导致无法直接进行并发测试的问题。该方案采用了先进的系统架构，支持并发测试，能够满足产品量产测试需求，有效提高生产测试效率，并具备良好的通用性和扩展性，可作为基础性测试平台进行推广应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟珞珈	中国电子科技集团公司第三十研究所	2	2	1.0	1.0