基于PXI总线的电子设备生产测试系统设计

• 作者: 冯飞 杨福先
• 来源期刊: 通讯世界
• 学科: 工学
• 关键词: PXI总线 生产测试 电子设备
• 年，卷（期）: 2016,（9）
• 所属期刊栏目: 论述
• 页码范围: 275-276
• 页数: 2页
• 分类号: TN606
• 字数: 1468字
• 语种: 中文

摘要

以PXI总线技术为基础，建立电子设备生产测试系统，针对不同的电子设备，测试需求也会不同，因此本系统需要有良好的开放性和可扩展性。本文以电子设备生产测试系统为例，设计出基于PXI总线的检测装备，重点论述了软硬件设计方法，通过对标准接口的应用，实现了系统的综合设计。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨福先		2	1	1.0	1.0
2	冯飞		2	1	1.0	1.0