原文服务方: 科技与创新       
摘要:
天平在使用一段时间以后易出现问题,影响天平的使用质量.对电光分析天平出现的故障进行了分析,寻找了故障产生的原因,并提出了故障的解决方式.
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文献信息
篇名 分析天平故障影响因素与故障排除研究
来源期刊 科技与创新 学科
关键词 电光分析 读数系统 双盘精密天平 称量速度
年,卷(期) 2016,(20) 所属期刊栏目 技术应用
研究方向 页码范围 142
页数 1页 分类号 TH715.11
字数 语种 中文
DOI 10.15913/j.cnki.kjycx.2016.20.142
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 莫洪波 15 36 3.0 5.0
2 何风洁 9 7 2.0 2.0
3 黄可 4 10 2.0 3.0
4 梁飞跃 3 7 2.0 2.0
传播情况
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引文网络
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二级参考文献  (12)
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1989(1)
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1996(1)
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1999(1)
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2016(1)
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2016(1)
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研究主题发展历程
节点文献
电光分析
读数系统
双盘精密天平
称量速度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
科技与创新
半月刊
2095-6835
14-1369/N
大16开
2014-01-01
chi
出版文献量(篇)
41653
总下载数(次)
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总被引数(次)
202805
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